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No. サービス 調査概要
1 無効資料調査 弊所が最も得意とする調査で、侵害可能性のある特許を発見、または、特許を有する第３者から攻撃された場合に行う調査です。既に権利化された特許(権利化前を含む)を、権利無効とするための証拠資料を収集する調査です。(英語：Invalidity Search, Validity Search, Patentablity Search, Novelty Search, Prior Art Search, etc.)
2 クリアランス調査 「侵害調査」等と呼ばれることがあります。自社の製品・サービスが第３者の特許権に侵害・抵触しているか否かの判断に基づき、関連する特許文献を抽出する調査です。
(英語：Clearance Search, Freedom to operate search, Infringement Search, etc.)
3 技術動向調査 ある特定技術の特許文献を読み込んで解析し、技術・権利をエクセル化することでお客様オリジナルのデータベースを作成します。また、エクセル化したデータを用いてグラフを作成する（技術動向調査）ことも可能です。
4 検索式の作成手順 数多くの経験から、ノイズが少なく、且つ、重要な文献を漏れなく抽出するために、弊所での検索式の作成方法をご紹介いたします。
5 使用データベース 弊所にて使用可能なデータベースの紹介です。

１． 無効資料調査

調査フロー STEPのご説明
特許番号,請求項をご連絡下さい STEP 1 最低限ご連絡いただく内容です。尚、通常は、出願日以前公開でご提案いたしますが、期間も合わせてご連絡いただけると助かります。また、貴社にて既に調査している場合、抽出した文献、特に重要な構成要件（見つけづらい部分）、検索条件等をご提示いただけるとより精度の良い調査を行うことができます。
予備検索の実施 STEP 2 対象特許の周辺技術を特許文献から調査し、特許分類、キーワードを選定していきます。また、読み込みから動向を把握して、組み合わせによる特許性の否定可能性等（無効ロジック）を検討します。
無効ロジックの検討 STEP 3
検索式の作成 STEP 4 STEP2-3の結果、及び、フィードバックを繰り返して検索式を作成し、調査対象集合（件数）を特定します。
調査条件及びお見積を送付 STEP 5 検索式の詳細及び調査手法（調査条件）と、件数に基づくお見積と、を送付いたします。尚、調査手法は、調査対象に応じて、機械検索、マニュアル調査のいずれかとなります。
ご発注 STEP 6  
スクリーニング STEP 7  
構成要件と抽出した文献の開示内容との対比 STEP 8  
報告書の作成 STEP 9 構成要件毎に開示箇所を比較して、関連度と若干のコメントとをエクセル形式の報告書に記載します。報告書のサンプルはこちらから。
報告書の納品 STEP 10  
貴社にてご確認 STEP 11 所定の期間（貴社にての検収期間を考慮）の後、請求書を発行いたします。請求書をお急ぎの場合は、ご連絡いただければ早急に発行するようにいたします。
ご請求 STEP 12

費用発生タイミング

費用は、STEP６終了後発生します。STEP1-5は、基本的に無料で行います。

納期の目安

納期の目安は以下の通りです。また、お急ぎの場合は別途ご連絡いただければと思います。尚、案件により異なる可能性がありますので、その点はご了承下さい。
STEP1-5：　ご依頼後５営業日
STEP6-10：　ご発注後１５営業日

２．　クリアランス調査

調査フロー STEPのご説明
製品又はサービスの資料の提供 STEP 1 必要に応じてお打ち合わせをお願いする場合がございます。
予備検索の実施 STEP 2 簡単なキーワードの組み合わせにより、製品又はサービスに関連する特許文献を読み込んで、動向を把握します。
調査対象（技術要素）の特定 STEP 3 クリアランス調査で最も重要な部分です。貴社の製品又はサービスと、先に把握した動向と、その動向から特許として権利化されている可能性のある部分と、を加味して調査対象を要素毎に整理します。
検索式の作成 STEP 4 STEP2-3の結果、及び、フィードバックを繰り返して検索式を作成し、調査対象集合（件数）を特定します。
技術要素と調査条件及びお見積 STEP 5 技術要素と、検索式の詳細と、件数に基づくお見積と、を送付いたします。送付する技術要素を良くご確認下さい。これにより貴社と弊所との考えの差異をなくします。尚、技術要素を先に送り、貴社にてご確認の後、検索式の詳細と、お見積と、を送付する場合がございます。
ご発注 STEP 6  
スクリーニング STEP 7  
技術要素と抽出した文献の特許請求の範囲との対比 STEP 8 調査の性質上、独立請求項（権利範囲が最も広い）から判断いたします。
報告書の作成 STEP 9 対比結果をエクセルデータに整理し、特に、関連すると思われるものに関しては、目的・効果と独立請求項とを記載し、若干のコメントをいたします。報告書のサンプルはこちらから。
報告書の納品 STEP 10  
貴社にてご確認 STEP 11 所定の期間（貴社にての検収期間を考慮）の後、請求書を発行いたします。請求書をお急ぎの場合は、ご連絡いただければ早急に発行するようにいたします。
ご請求 STEP 12

費用発生タイミング

費用は、STEP６終了後発生します。STEP1-5は、基本的に無料で行います。

納期の目安

納期の目安は以下の通りです。また、お急ぎの場合は別途ご連絡いただければと思います。尚、案件により異なる可能性がありますので、その点はご了承下さい。
STEP1-5：　ご依頼後５営業日
STEP6-10：　ご発注後１５営業日

３．　技術動向調査

調査フロー STEPのご説明
対象技術のご提示 STEP 1 必要に応じてお打ち合わせをお願いする場合がございます。
予備検索の実施 STEP 2 対象技術の周辺技術を特許文献から調査し、動向を把握します。
検索式の作成（特許分類の特定） STEP 3 STEP2と平行して特許分類を精査します。この特許分類に基づき検索式を作成し、調査対象集合（件数）を特定します。
調査条件及びお見積を送付 STEP 4  
ご発注 STEP 5  
スクリーニング STEP 6 スクリーニングと平行して集合の傾向を、技術毎に特定するための技術区分を特定します。特定した技術区分を送付しますので、ご確認していただきます。
技術区分の特定と送付 STEP 7
技術区分のご確認 STEP 8
抽出した文献の読み込みと技術区分の付与 STEP 9 抄録文、独立請求項等の読み込み部分は、ご指定していただくか、又は、弊所にてご提案いたします。
エクセルデータへの整理 STEP 10 エクセルのフィルタの機能を用いて、貴社固有のデータベースとすることができます。報告書のサンプルはこちらから。
エクセルデータの納品 STEP 11  
貴社にてご確認 STEP 12 所定の期間（貴社にての検収期間を考慮）の後、請求書を発行いたします。請求書をお急ぎの場合は、ご連絡いただければ早急に発行するようにいたします。
ご請求 STEP 13

費用発生タイミング

費用は、STEP5終了後発生します。STEP1-4は、基本的に無料で行います。

納期の目安

本件は、調査範囲、件数により大きく変動いたします。納期につきましては、お見積の際に別途ご連絡いたします。

４．　検索式の作成手順

検索式は、調査において最も重要なものと位置づけています。漏れの多い検索式はもとより、ノイズを極力減らすようにしております。ノイズが多い、即ち、工数がかかることで費用がかさみ納期が伸び、又、ノイズが多いと読み漏らしのリスクが増えます。弊所では、常に「漏れなく、ノイズのない究極の検索式」が作れるように努力しております。

調査対象の明確化 STEP 1

作成のポイント

・特許分類の抽出に特に重点を置いて作業します。キーワードのみに頼る場合、思いもよらぬキーワードが存在し漏れにつながる、件数の収束のためにキーワード同士のANDロジックが増えて漏れにつながる、ノイズが増えてしまう等の問題が生じてしまいます。

・STEP2の予備検索では、様々なキーワード・観点により、関連する数件の文献を抽出します。この予備検索により、数多くの文献を抽出することで、特許分類の精度、最終的な検索式の精度の向上につながります。

・抽出した文献にした付与された特許分類をチェックして、関連する特許分類を抽出します。 ・特許分類のみを入力して、思いつかないキーワードを抽出します。

・調査方針に従い、抽出した特許分類、キーワードを用いて様々な観点の検索式を作成します。 ・検索集合の発明の名称等のチェック、前述の抽出した文献が含まれているか否かをチェックします。

・STEP6でのフィードバックによりSTEP3-5を繰り返し実施して、検索式の精度を高くします。
予備検索の実施 STEP 2
特許分類、キーワードの特定 STEP 3
複数観点の検索式を作成 STEP 4
ご発注 STEP 5
検索式の検証 STEP 5
ノイズ：少、精度：高？ STEP 6

（NOの場合は、Step 3へ戻る)
検索式のご提案 STEP 7
技術区分のご確認 技術区分のご確認

5．使用データベース

有料データベース

対象文献 データベース名
日本特許 NRIサイバーパテント２
外国特許 STN（the Scientific and Technical Information Network）
一般文献 J-DREAMⅢ,　日経テレコン等G-Searchデータベースサービス

無料データベース

対象文献 データベース名
日本特許 特許電子図書館（IPDL）
特許審査官端末（独立行政法人工業所有権情報・研修館（特許庁内））
外国特許 Patent Full-Text Database (米国特許庁ホームページ内)
Espacenet (欧州特許庁ホームページ内)
一般文献 CSDB（コンピュータソフトウェアデータベース（IPDL内））
NDL-OPAC（国会図書館蔵書検索）
CiNii（論文、大学図書館横断検索）

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